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激光測量設(shè)備

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聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列
聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列：聚焦光束分析儀 CinSpot 系列產(chǎn)品來自德國激光光束分析儀生產(chǎn)廠家 Cinogy 公司，主要是針對聚焦后的激光光束的測量和分析的測量設(shè)備，覆蓋 UV~NIR 波段，可測量的焦點光斑尺寸為Min. 3um。主要用于測量焦點光斑尺寸、焦點位置、M^2、瑞利長度、激光功率等等。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計。FFP 的設(shè)計簡潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對準、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設(shè)計到 OEM 系統(tǒng)中，因為他們知道它將提供非常接近理論數(shù)學模型的結(jié)果。

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800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器
800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器：鈦寶石激光介質(zhì)由于其具有極寬增益譜與發(fā)射譜的特性，在超短脈沖產(chǎn)生和波長調(diào)諧等方面具有極大的優(yōu)勢。長期以來鈦寶石激光器使用價格昂貴的 532 nm 全固態(tài)激光器作為泵浦源，在一定程度上限制了其推廣和應(yīng)用。高亮度、高功率藍-綠光激光二極管的問世，為低成本鈦寶石振蕩器的實現(xiàn)提供了新的可能。LD 具有結(jié)構(gòu)緊湊、穩(wěn)定性高、價格低廉等優(yōu)勢。

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600-1600nm單波長DFB激光器
Laser-1200是一系列在廣泛的波長和功率范圍可高度定制的600-1600nm單波長DFB激光器，波長和功率可選，波長可選范圍600-1600nm, zui大輸出功率15dBm。

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850nm激光器
1102是是一款連續(xù)波(CW)激光器，提供高功率850nm激光器、多模光纖耦合輸出，可提供長期穩(wěn)定輸出功率運行

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C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
Laser-1000是一款連續(xù)波、單頻、C、L波段可調(diào)諧激激光器，可調(diào)范圍覆蓋整個C、L波段，功率可達16.5dbm，線寬可達100 kHz，調(diào)諧分辨率0.01 pm，C、L波段可調(diào)諧激光器是一款用途廣泛、成本效益高的通用儀器。C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm

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CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
超小尺寸光束分析儀-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸，CinCam確保了在對連續(xù)和脈沖激光光束測量分析時的高準確度。其即插即用的設(shè)計保證了設(shè)備的易兼容性和操作的簡易型。此外Cincam光束分析儀通用的C/F-Mount接口設(shè)計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉(zhuǎn)換裝置、紅外轉(zhuǎn)換裝置更為方便。

型號：CinCam Pico系列廠商性質(zhì)：代理商
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手持式膜厚測量儀
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有專為單層和雙層應(yīng)用優(yōu)化的數(shù)據(jù)分析算法。

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MPROBE 70在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)
在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量，專為產(chǎn)線的連續(xù)測量而設(shè)計

型號：MPROBE 70 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)
薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力。MProbe 60 已應(yīng)用于研發(fā)納米技術(shù)中心。

型號：MPROBE 60 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數(shù)）的實時光學測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因為它使用門控數(shù)據(jù)采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 40 MSP微小區(qū)域薄膜厚度測量儀
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質(zhì)：代理商
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