Micro-LED晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)

隨著Mini-LED晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)和Micro-LED 晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)（簡(jiǎn)稱M-LED）尺?的?幅縮?，光通量的下降，檢測(cè)難度在不斷上升，檢測(cè)數(shù)量也在?幅增加，對(duì)其綜合光電性能的檢測(cè)也提出了更多更新的要求。為此，Aunion Tech推出了全新開發(fā)的?主品牌晶圓級(jí)I-V-L-S綜合光電性能測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)。 Micro-LED 晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點(diǎn)亮測(cè)試；可以?持正裝或倒裝M-LED的測(cè)試；不僅能對(duì)單 顆M-LED進(jìn)?I-V-L（電流-電壓-亮度）曲線的測(cè)試，還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息；不僅能觀察單顆LED?身的亮度、?度分布，還能實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列M-LED的亮度、?度、波?均勻性分布進(jìn)?測(cè)量和分析。 Micro-LED 晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)M-LED的綜合光電性能測(cè)試，是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)的檢測(cè)設(shè)備。

M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測(cè)試臺(tái)

• 顯微成像+探針點(diǎn)亮模塊：蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品

• 超?量程的綜合光電性能測(cè)試

 - I-V-L-S測(cè)試集成電流、電壓、亮度、?度、主波?、光譜等多種信息

 - 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程，完整測(cè)試M-LED的特性

 - ?持100pA到1A的超?量程測(cè)試

• 精密運(yùn)?控制臺(tái)

• 隔振光學(xué)平臺(tái)

Micro-LED晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格：

關(guān)于昊量光電：

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。